Wizualizacja i analizy
 

JTAG Visualizer

JTAG Visualizer jest zaawansowaną graficzną platformą pozwalajacą zobrazować wyniki testów na tle schematu lub layout’u płytki drukowanej. Współpracuje z innymi produktami B-S firmy JTAG Technology, a przede wszystkim z platformą przygotowania i realizacji testów ProVision. Akceptuje dane z szerokiej gamy programów CAD, CAM i EDA. Daje informację zwrotną DFT (Design For Test) w postaci podświetlenia błędów bezpośrednio na schemacie lub projekcie PCB.

JTAG Visualizer może być wykorzystywany już na wczesnych etapach projektu przy uruchamianiu prototypu, Na produkcji może wizualizować dane również z innych uzupełniających systemów testowych (funkcjonalnych, ICT, FP) lub raportów BSD (Boundary-Scan Diagnostic). Możliwa jest też integracja z innymi systemami testowymi klienta.

Charakterystyka:

  • Błędy zaznacza różnymi kolorami na widokach schematu i layout’u PCB - pełna interakcja.
  • Pełna konfigurowalność parametrów wizualizacji
  • Szerokie spektrum akceptowanych źródeł danych (CAD,CAM, EDA) i formatów (Mentor, Cadence, Altium, Zuken, Valor, FabMaster ODB++, …)
  • Pracuje niezależnie lub we współpracy z platformą ProVision i innymi modułami programowymi firmy JTAG Technology
  • Łatwa integracja w ramach innych oryginalnych systemów testowych klienta
  • Upraszcza detekcję błędów w serwisie przy naprawach
 

JTAG Maps

JTAG Maps jest rozszerzeniem Altium Designer umożliwiającym użytkownikowi szybkie oszacowanie pokrycia testami Boundary-Scan (B-S) wynikające z zastosowanych w projekcie układów JTAG. Dotychczas taka analiza prowadzona była ręcznie i pochłaniała wiele czasu. Dzisiaj dzięki darmowemu narzędziu JTAG Maps automatyzujemy ją, usprawniamy projektowanie pod kątem testowalności i tym samym skracamy czas wprowadzania produktu na rynek.

JTAG Maps wizualizuje na schemacie i daje raporty pokrycia na trzech poziomach dokładności. Podstawowy poziom wynika tylko z analizy schematu poprzez dobór kategorii dla komponentów oraz identyfikację infrastruktury B-S, czyli wykrycie połączeń linii portów TAP (Test Access Port) - sygnałów TMS, TCK, TDI, TDO, TRST. Ta infrastruktura B-S, kluczowa dla możliwości testowania, jest wyróżniana na schemacie innym kolorem. Wyższy poziom wykorzystuje dodatkowo modele BSDL (Boundary-Scan Description Language) dostarczane przez producentów półprzewodników. Modele te precyzyjnie definiują jakie piny mogą wysterowane i odczytane w procesie testowania B-S. Na najwyższym poziomie wymaga współpracy z pełnym systemem ProVision. Raporty pokrycia mogą wtedy być eksportowane/importowane między JTAG Maps i JTAG ProVision, a JTAG Maps jest w stanie wizualizować rozszerzone informacje pochodzące z importu.

Boundary-Scan jest powszechnie uznaną metodą testowania zmontowanych płyt PCB z układami cyfrowymi obejmującymi FPGA, CPLD, mikroprocesory, mikrokontrolery itp. JTAG Maps wykorzystując tę technologię pozwala szybko i łatwo ocenić tkwiący w naszym układzie potencjał pod kątem testowalności całego urządzenia. JTAG Maps jest idealnym narzędziem dla inżynierów odpowiedzialnych za projektowanie uwzględniające testowalność konstruowanych urządzeń, uzupełniającym powszechnie stosowany Altium Designer. Zapewnia bowiem:

  • Błyskawiczną wizualizację testowalnych obszarów B-S
  • Usprawnia projektowanie pod kątem testowalności i przyspiesza cały proces projektowania
  • Skraca czas wprowadzenia produktu na rynek

Inżynierom pragnącym szerzej stosować technologię B-S, JTAG Technologies oferuje dwie opcje bardziej rozbudowanych narzędzi:

  • JTAG Live - nisko kosztowe narzędzia dla testowania funkcjonalnego
  • JTAG ProVision – w pełni automatyczny system generowania i realizacji testów oraz programowania układów