Wielka skala integracji współczesnej elektroniki, ekstremalnie małe rozmiary elementów i wielowarstwowych obwodów drukowanych, stosowanie montażu powierzchniowego układów w obudowach BGA lub TSOP powoduje, że nie ma dostępu do wyprowadzeń układów i warstw wewnętrznych płytek. Sygnały więc nie mogą być próbkowane i mierzone przez tradycyjne przyrządy pomiarowe. Z drugiej strony dla coraz bardziej skomplikowanej elektroniki jest coraz trudniej przygotować łatwe do przeprowadzenia testy pokrywające wszystkie możliwe uszkodzenia. Tak więc automatyzacja testowania i generowania testów, zwiększenie pokrycia testami stanowi wyzwanie dla inżynierów. Testowanie to problem przed którym stoją konstruktorzy w biurach projektowych, inżynierowie testów i kontroli jakości na produkcji, technicy w centrach serwisowych. Każdy z nich ma inne oczekiwania i wymagania. JTAG Technology oferuje narzędzia, które mogą we wszystkich wspomnianych obszarach pomóc precyzyjnie zidentyfikować uszkodzenia. Można je pogrupować jak następuje:
Ten zbiór narzędzi może być konfigurowany w różne pakiety stosownie do konkretnej aplikacji. Doświadczony zespół WG Electronics służy pomocą przy dobraniu właściwych opcji do jednego z następujących zastosowań.
ProVision jako narzędzie do automatycznego generowania testów i przygotowania aplikacji ISP (in-system programming) jest szczególnie użyteczne dla inżynierów testów i kontroli jakości na liniach produkcyjnych. Nawet gdy nie są oni ekspertami B-S są w stanie sprawnie zaprojektować procedury testowe dla swoich urządzeń. ProVision poprowadzi ich krok po kroku przez cały proces. Przy testowaniu bardziej wyrafinowanej logiki dzięki wbudowanym mechanizmom skryptowym pozwala budować testy funkcjonalne w języku Phyton. ProVision w fazie testowania zapewnia wysokiej jakości system detekcji błędów i ich wizualizacji na schemacie lub layout’cie płytki drukowanej.
Zalety:
- Łatwe i szybkie projektowanie testów i procesu programowania układów
- Szerokie możliwości również po bezproblemowej integracji z platformami programowymi National Instruments, Geotest i środowiskami programistycznymi
- Łatwa integracja z automatycznymi testerami ATE (ICT, FT) firm Aeroflex, Agilent, DigitalTest, Spea, Takaya i inne
- Szeroka oferta kontrolerów B-S z komunikacją USB, Ethernet, PXI, PCI i inną od testerów ATE
Współcześni projektanci sprzętu są pod ciągłą presją dostarczania coraz bardziej skomplikowanych urządzeń w coraz krótszym czasie. W tym kontekście jednym z wyzwań jest jak sprawnie testować pakiety elektroniczne i wykrywać niewidoczne uszkodzenia produkcyjne. To jest właśnie obszar gdzie JTAG Technologies może pomóc. Jeśli infrastruktura B-S zostanie wbudowana w testowaną płytkę jako integralny mechanizm testera już na początku - w fazie projektu, inni mogą go wykorzystać na wszystkich etapach życia urządzenia – na produkcji, w serwisie, …
Zalety:
- Niezależny od specyfiki projektu sposób sprawdzania urządzeń
- Analiza testowalności na etapie schematu
- Kontrola projektantów sposobu testowania urządzeń na produkcji
- Automatyzacja i skrócenie czasu projektowania testów
- Zwrot czasu poświęconego na projektowanie infrastruktury B-S w późniejszym testowaniu urządzeń i usuwaniu uszkodzeń.
- Ochrona urządzenia przed błędami produkcyjnymi
- Ochrona urządzenia przed błędami produkcyjnymi
W świetle wszechobecnych mikrokontrolerów, często w pracach inżynierskich prowadzonych przez poszczególnych projektantów przeplatają się prace sprzętowe i programowe. To co je łączy to potrzeba wgrania na końcu kodu do pamięci lub zaprogramowania struktury PLD. Na bardziej skomplikowanych pakietach może być całe spektrum programowalnych układów jak pamięci Flash, (NOR i NAND), szeregowe PROM’y (I2C, SPI etc..), CPLD, FPGA, µC i DSP. Problem pojawia się z próbą ujednolicenia interfejsów, protokołów i ewentualnych adapterów programujących. JTAG Technology daje rozwiązanie unifikujące te różne wymagania i standardy.
Zalety:
- Jednolite podejście do wszystkich obszarów zastosowań programowania ISP - Flash, (NOR i NAND), szeregowe PROM’y (I2C, SPI etc..), CPLD, FPGA, µC i DSP
- Integracja programowania z procesem testowania poprzez wykorzystanie standardowych kontrolerów JTAG stosowanych w technoligii B-S
- Intuicyjny, przyjazny w użytkowaniu interfejs użytkownika
- Różne formaty danych programujących - SVF, JAM/STAPL, JEDEC, ISC (IEEE 1532)
JTAG Technologies oferuje szerokie spektrum najlepszych w swojej klasie produkcyjnych rozwiązań testowania pakietów elektronicznych i programowania układów już zamontowanych. Zarówno producenci OEM jak i kontraktowi znajdą adresowane specjalnie do nich produkty w postaci wolnostojących urządzeń B-S albo w postaci zintegrowanych rozwiązań w ramach automatycznych systemów testowych ATE. W tym drugim zakresie JTAG Technologies jest preferowanym partnerem dla wielu wiodących firm zajmujących się automatyzacją procesu produkcji.
Zalety:
- Redukuje koszty i czas wprowadzania produktów na rynek. B-S skraca czas przygotowania testów, zmniejsza czas uruchamiania prototypów i usprawnia programowanie.
- Podniesienie jakości testowania – szybszy w cyklu produkcyjnym start prac inżynierskich nad testowaniem, wykorzystanie informacji z projektowania schematu i PCB do automatyzacji generowania testów, gotowość procedur testowych od chwili przekazania urządzenia do produkcji, rozbudowana diagnostyka do wykorzystania również przy czynnościach serwisowych..
- Podniesienie uzysku produkcyjnego.
Diagnostyka oparta o narzędzia firmy JTAG Technologies daje precyzyjne i jednoznaczne wskazania uszkodzeń podświetlając np. na obrazie graficznym PCB lub schematu miejsca zwarć, braku lub błędnych połączeń itp. Typowe stanowisko naprawcze oparte na technologii B-S składa się więc ze zbudowanego na platformie ProVision systemu wykonującego automatycznie testy, oprogramowania wizualizacyjnego ich wyniki i ewentualnie pakietu programowania ISP. Dzięki temu cykle naprawy, modyfikacji i update’u oprogramowania są maksymalnie skrócone. Uszkodzenia są bowiem wykrywane przed testami funkcjonalnymi jak układ jeszcze w ogóle nie zaczął lub przestał funkcjonować, a. reprogramowanie pamięci lub rekonfigurowanie PLD nie wymaga demontażu układu często niszczącego układ lub PCB.
Lower your repair time cycle. Reprogram and reconfigure PLDs and flash memory on field returns easily without having to remove ICs from the boards. Uncover faults rapidly and pre-screen boards before functional verification. Use our run-time and diagnostic tools on your board returns for fast, precise analysis of faults, and to easily update firmware to the latest version. Unique AutoBuzz software learns and compares 'connectivity signature'.
Zalety:
- Zwiększone możliwości diagnostyki i wizualizacji wyników
- Wykorzystanie gotowych produkcyjnych testów i procedur programujących jako serwisowych
- Możliwość przeprowadzania testów w dowolnym miejscu dzięki kompaktowej budowie testera JTAG