Kontrolery Boundary-Scan
Autoryzowany dystrybutor
 

JT5705/FXT
Pakiety bazowe

 

JT 5705/FXT jest kompaktowym, zasilanym z USB urządzeniem przeznaczonym do integracji technologii boundary-scan (B-S) w ramach automatycznych systemów testowych ATE. Zapewnia dwa porty dostępu JTAG TAP (Test Access Ports) i 64 kanały pomiarowe linii we/wy będących kombinacją sygnałów cyfrowych, analogowych i częstotliwościowych. Płytki bazowe serii JT 2702/xx dedykowane dla poszczególnych testerów ostrzowych światowych producentów umożliwiają bezproblemową integrację. Pozwalają na instalację do dwóch jednostek JT 5705/FXT w jednym testerze. Co więcej dodatkowe multipleksery dostępne na płytkach bazowych zwiększają efektywną ilość kanałów pomiarowych.

Zaawansowani użytkownicy mogą wykorzystać zalety technologii FPGA zastosowanej na JT 5705/FXT do tworzenia własnych aplikacji sterowanych z poziomu unikatowego oprogramowania CoreCommander firmy JTAG.

Charakterystyka JT 5705/FXT:

  • 2 porty TAP
  • Częstotliwość TCK do 15 MHz
  • 64 kanały we/wy w tym 8 analogowych
  • Dokładność ustawień: +/- 0.45%
  • Dokładność pomiarów: +/- (0.4% + 100mV)
  • Zakres ustawień częstotliwości: 0 - 62,5 MHz
  • Zakres pomiaru częstotliwości: 0 - 200 MHz
  • Zakres pomiaru szerokości impulsów: 4 - 8192 ns

Charakterystyka JT2702/MG:

  • 2 gniazda dla JT5705/FXT
  • Multipleksery sygnałowe
  • Dedykowany dla testerów firmy MG

Charakterystyka JT2702/IG:

  • 2 gniazda dla JT5705/FXT
  • Multipleksery sygnałowe
  • Dedykowany dla testerów firmy Ingun

Charakterystyka JT2702/BO:

  • 1 gniazdo dla JT5705/FXT
  • Uniwersalny dla wszystkich testerów
 

JT5705/RMI
Cyfrowo-analogowy tester
B-S do szaf 19”

 

JT5705/RMI (Rack Mountable Instrument) to wysokiej jakości kontroler boundary-scan (B-S) oferujący porty dostępu TAP (Test Access Ports) wraz z analogowymi i cyfrowymi liniami we/wy. Wszystko to w formie modułu 1U montowanego w 19" szafach sterowniczych.

JT5705/RMI ma budowę modularną opartą o pakiety JT5705/FXT. Pojedynczy pakiet zapewnia 1 port TAP i 64 kanały we/wy. W jednej obudowie istnieje możliwość zainstalowania do 4 takich modułów. Tak zwielokrotnione porty TAP mogą być wykorzystywane w dowolnej konfiguracji systemu testowego – do monitorowania wielu łańcuchów B-S na tej samej płytce drukowanej lub pojedynczych łańcuchów B-S na kilku identycznych płytkach.

JT5705/RMI pozwala testować i programować struktury w projektach urządzeń cyfrowo analogowych o średnim i wysokim stopniu komplikacji. Umożliwia pomiary napięć zasilaczy, częstotliwości zegarów, szerokości impulsów oraz przetworników C/A i A/C. Funkcje pomiarowe można poszerzyć wykorzystując pakiet programowy CoreCommander FPGA.

Charakterystyka:

  • 1 - 4 porty TAP
  • Częstotliwość TCK do 15 MHz
  • 64 -256 kanały we/wy w tym 8 - 32 analogowych
  • Dokładność ustawień: +/- 0.45%
  • Dokładność pomiarów: +/- (0.4% + 100mV)
  • Zakres ustawień częstotliwości: 0 - 62,5 MHz
  • Zakres pomiaru częstotliwości: 0 - 128 MHz
  • Zakres pomiaru szerokości impulsów: 4 - 8192 ns
  • Zakres napięcia: + 32.768V lub ± 16.384V
 

JT5705/USB
Cyfrowo-analogowy tester
B-S

 

JT5705/USB jest kontrolerem boundary-scan (B-S) oferującym porty dostępu TAP (Test Access Ports) wraz z analogowymi i cyfrowymi liniami we/wy. Wszystko to w estetycznej, małej, wolnostojącej obudowie.

JT5705/USB umożliwia pomiary napięć zasilaczy, częstotliwości zegarów, szerokości impulsów oraz przetworników C/A i A/C. Funkcje pomiarowe można poszerzyć wykorzystując pakiet programowy CoreCommander FPGA.

Charakterystyka:

  • 2 porty TAP
  • Częstotliwość TCK do 15 MHz
  • 64 kanały we/wy w tym 8 analogowych
  • Dokładność ustawień: +/- 0.45%
  • Dokładność pomiarów: +/- (0.4% + 100mV)
  • Zakres ustawień częstotliwości: 0 - 62,5 MHz
  • Zakres pomiaru częstotliwości: 0 - 200 MHz
  • Zakres pomiaru szerokości impulsów: 4 - 8192 ns
 

JT3705/USB
Explorer

 

JT 3705/USB jest tanim kontrolerem boundary-scan (B-S) dedykowanym w szczególności do testowania i programowania ISP małych wolumenów.

JT 3705/USB jest ukierunkowany na testowanie pakietów w fazie ich projektowania, w ramach czynności serwisowo-naprawczych i przy małoseryjnej produkcji.

Charakterystyka:

  • Duża szybkość testowania
  • Kompatybilność USB 1.1 i 2.0
  • Dwa niezależne kanały portów dostępu TAP w standardzie IEEE Std. 1149.x
  • Programowalne częstotliwość zegara TCK do 6MHz, napięcia i progi sygnałów wejściowych
  • Zasilanie poprzez USB z komputera nadrzędnego
  • Dostarczany ze standardowym kablem JTAG
  • Wymiary: 57 x 79 x 16 mm
  • Waga 49g
 
[ 1 ] [ 2 ] [ 3 ] [ 4 ] [ 5 ]

JT37x7/TSI
Przenośny kontroler B-S
DataBlaster



USB 2.0, Ethernet, Firewire

JT 37x7 DataBlaster jest rodziną wysokiej jakości kontrolerów boundary-scan (B-S). Jest ona zorientowana na testowanie produkcyjne, szybkie programowanie w układzie docelowym pamięci flash i konfigurowanie programowalnej logiki.

JT 37x7 jest dostepne w różnych wykonaniach i w trzech poziomach funkcjonalności:

  • JT 3707 - podstawowy - do testowania pakietów, programowania CPLD i pamięci flash małej pojemności
  • JT 3717 - standardowy - do testowania pakietów, programowania CPLD i pamięci flash średniej pojemności w procesie produkcji i uruchamiania.
  • JT 3727 - pełny - do testowania pakietów, programowania CPLD i pamięci flash dużej pojemności w procesie produkcji i uruchamiania.

Charakterystyka:

  • 4 programowalne porty TAP (1.0V - 3.6V) kontrolowane niezależnie za pośrednictwem JT 2147 QuadPOD (w komplecie) umożliwiające testowanie do 4 łańcuchów B-S jednocześnie
  • Szybkie programowanie układów
  • Automatyczne, płynne dopasowanie zegara TCK dla optymalizacji przetwarzania, do 40 MHz
  • Technologia ETT (Enhanced Throughput Technology) i operacje równoległe dla zwiększenia wydajności w produkcji wielkoseryjnej
  • Kompatybilny z modułami JT 2149/MPV-0xx
 

JT37x7/RMI
DataBlaster
Kontroler B-S do szaf 19”

JT 37x7/RMI (Rack Mountable Instrument) jest kontrolerem boundary-scan (B-S) wyposażonym w cztery porty TAP i 256 linii we/wy. Wszystko to w formie modułu 1U montowanego w 19" szafach sterowniczych.

JT 37x7/RMI jest idealnym rozwiązaniem dla systemów testowych łączących strukturalne testy B-S z testowaniem funkcjonalnym. Szybki programowalny zegar TCK zapewnia dużą szybkość operacyjną w tym programowania pamięci. Funkcjonalność urządzenia może być poszerzona przez moduły JT 2149/MPV-0xx SCIL. Adapter JT 2149 Connector umożliwia podłączenie dodatkowych modułów TAP - JT 2149/MPV TAP i SCIL.

JT 37x7/RMI może być montowany w szafie 19” w ramach pełnego systemu testującego urządzenia na produkcji. Połączenie portów TAP z kanałami we/wy DIOS (Digital I/O Scan) plus obsługa szerokiej gamy układów programowalnych ISP czyni z prezentowanego urządzenia wyróżniające się na tle konkurencji rozwiązanie.

JT 37x7/RMI jest wspomagany przez szerokie spectrum pakietów programowych PIP (Production Integration Packages) dla LabView, TestStand, LabWindows, .NET itp. firmy National Instruments.

Charakterystyka:

  • 4 porty JTAG TAP i 256 linii we/wy
  • Interfejsy: USB, Firewire, Ethernet
  • Pełna funkcjonalność DataBlaster 40MHz
  • Wymiary: 440 mm (19") x 350 mm x 1U (adapter montażowy w komplecie)
  • Waga: 2420 g